Proszkowy dyfraktometr rentgenowski Ultima IV firmy Rigaku

Wielofunkcyjny, automatyczny dyfraktometr proszkowy Ultima IV wyposażony w system optyki CBO (Cross Beam Optics), opatentowany przez firmę Rigaku. Justowanie optyki, niezależnie od aplikacji odbywa się automatycznie przy użyciu siedmiu napędów sterowanych z komputera. Ultima IV jest wyposażona w goniometr theta/theta o promieniu 285 mm i minimalnym kroku 0,0001 stopnia. Unikalna optyka CBO pozwala na szybką zmianę aplikacji dyfraktometru poprzez szybką zmian optyki z ogniskującej na równoległą. Przyrząd ten umożliwiają badania szerokiego zakresu materiałów w postaci ciał stałych i ciekłych, takich jak: metale, minerały, polimery, katalizatory, plastiki, farmaceutyki, materiały cienkowarstwowe, ceramika, półprzewodniki, etc.

Możliwości badawcze:

• Pomiar stałej sieciowej (wyznaczenie parametrów sieci struktury krystalicznej badanych próbek metodą dyfrakcji promieni rentgenowskich). Badanie między innymi zmian strukturalnych w roztworach stałych.
  
• Jakościowa analiza fazowa (przedmiotem rentgenowskiej analizy fazowej jest identyfikacja składu fazowego metodą dyfrakcji promieni rentgenowskich). Wynik analizy zawiera opis zidentyfikowanych faz krystalicznych oraz dyfraktogram zestawiony z modelami dyfraktogramów zidentyfikowanych faz uzyskanymi z bazy danych struktur krystalicznych ICDD.
  
• Ilościowa analiza fazowa (przedmiotem rentgenowskiej analizy fazowej jest ilościowe oznaczenie składu fazowego badanych próbek metodą dyfrakcji promieni rentgenowskich.
  
• Rentgenowska ilościowa analiza fazowa musi być poprzedzona analizą jakościową). Oznaczanie struktur krystalicznych nowych związków metodą Rietvelda (istotą metody Rietvelda jest opis całego widma XRD i zminimalizowanie, metodą najmniejszych kwadratów różnicy pomiędzy widmem zmierzonym w eksperymencie a widmem wyliczonym na podstawie modelu strukturalnego).
  
• Wyznaczanie średniej wielkości krystalitów substancji stałych (średni rozmiar krystalitów (rozmiar ziaren w substancji krystalicznej) można wyznaczyć metodą dyfrakcji w zakresie 3 - 100 nm. )
  
• Badanie tekstury ciał stałych np. w blachach i drutach po operacjach walcowania, wyciągania itp.