IMiMT  
  Home Polski | English
ZM

Main Menu
 Home
 Contact Us
 Executives
 Staff
 History
 Research
 Education
 Services
 Conferences
 The Web Links
 News (PL)
 Publications
 Events
 Blog
 Mail (Intranet)

Login Form
Username

Password

Remember me
Forgotten your password?

 2015-09-02, 18:46
Laboratorium Materia³ów Zol-¯elowych i Nanotechnologii -- Oferta   Print 
Written by Administrator  
2008-04-19, 20:20
Page 9 of 10

Spektrofluorymetr z mikroskopem konfokalnym Fluorolog-3 firmy Horiba Jobin Yvon

Spektrofluorymetr Fluorolog-3 jest systemem zaprojektowanym do rutynowych pomiarów fluorescencyjnych. Uk³ad posiada komputerowe sterowanie pomiarem i analiz± danych.

Spektrofluorymetr pozwala na rejestracjê widm emisyjnych i wzbudzeniowych próbek:

  • ciecze (fluoro- i fosforencyjne roztwory).
  • cia³a sta³e (cienkie warstwy, minera³y, kryszta³y, proszki fluorescencyjne, itp).
  • materia³y biologiczne (roztwory zawieraj±ce proteiny, b³ony komórkowe, komórki)
  • materia³y silnie nieprze¼roczyste

Spektrofluorymetr umo¿liwia:

  • pomiar próbek o nieznanej charakterystyce widmowej
  • pomiar próbek o bardzo ma³ych objêto¶ciach
  • detekcjê ¶ladowych ilo¶ci substancji i próbek biologicznych
  • detekcjê z próbek silnie rozpraszaj±cych
  • charakteryzacjê mieszanin z³o¿onych
  • dzia³anie w obszarze IR
  • wybór pomiêdzy detekcj± prostopad³± (pomiar roztworów) a czo³ow± (pomiar cia³ sta³ych, próbek mêtnych lub silnie absorbuj±cych)
  • monitorowanie kinetyki reakcji przy u¿yciu fluorescencji rozdzielonej w czasie
  • bezpo¶redni± obserwacjê analizowanych próbek i rejestracja komputerowa wysokiej rozdzielczo¶ci cyfrowych obrazów (przystawka – mikroskop konfokalny)
  • przedstawienie trójwymiarowych map rozk³adu ró¿nych substancji o w³a¶ciwo¶ciach fluorescencyjnych w ca³ej objêto¶ci badanej próbki (mapping)


NanoMitex

NanoMitex

NanoMitex

Sol-Gel Laboratory
Sol-Gel Laboratory

Pracownik

Latest News
Dr in¿. Jerzy Tadeusz Baranek
Rada Instytutu
Posiedzenie Rady Instytutu
PUBLICZNA OBRONA ROZPRAWY DOKTORSKIEJ
Wykonanie umowy zlecenia

 
Go to top of page  Home | Contact Us | Executives | Staff | History | Research | Education | Services | Conferences | The Web Links | News (PL) | Ludzie | Publications | Events | Blog | Mail (Intranet) |
© Instytut Materia³oznawstwa i Mechaniki Technicznej Politechniki Wroc³awskiej