Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) S-3400N firmy Hitachi

Skaningowy mikroskop elektronowy HITACHI S-3400N jest urządzeniem przeznaczonym do badania morfologii powierzchni ciał stałych w mikro- i nanoskali. Badane mogą być różnego rodzaju próbki m.in. geologiczne (skały, rudy, minerały), środowiskowe (gleby, osady, odpady, produkty organiczne stałe), przemysłowe (kamienie budowlane i drogowe, surowce przemysłu: motoryzacyjnego, chemicznego, ceramicznego, hutniczego i szklarskiego), archeologiczne oraz biologiczne.

Przykładowe możliwości badawcze:

• materiałoznawstwo - kontrola prawidłowości procesów np. spiekania, uzyskiwanie obrazów wtrąceń, analiza wad- pęknięcia, niejednorodności, korozja, pomiary grubości i jakości powłok, identyfikacja pierwiastków począwszy od berylu, analiza pierwiastkowa z mikroobszarów, bezwzorcowa analiza ilościowa, mapy pierwiastkowe, przebiegi liniowe
  
• metalurgia - ocena struktury stopów, procesów uszlachetniania i obróbki metali, wykrywanie wad wyrobów
  
• odników, powłok galwanicznych
  
• geologia - identyfikacja faz mineralnych, mikroskamieniałości,
  
• kryminalistyka - identyfikacja próbek nieznanego pochodzenia w postaci mikrośladów gleb, lakierów, włókien itp.
  
• przemysł farmaceutyczny, medycyna, kosmetologia – badania składu chemicznego metodą dyspersji energii promieniowania rentgenowskiego (EDS), określanie składu chemicznego w mikroobszarach, wykrywanie wad wyrobów
  
• biologia - obserwacja struktury powierzchniowej i przekrojów roślin, zwierząt, grzybów oraz innych materiałów organicznych
  
• medycyna - implanty, materiały i elementy biomechaniczne

Zalety mikroskopu S-3400N:

• możliwość obserwacji bez pracochłonnej preparatyki (tryb niskiej próżni)
  
• duża komora preparatowa umożliwiająca pracę z dużymi próbkami
  
• możliwość tworzenia rekonstrukcji pseodotrójwymiarowych (3D image)

Dodatkowe informacje:
System umożliwia również wykonanie mikroanalizy rentgenowskiej dla wielu typów aplikacji