Mikroskop sił atomowych (AFM) XE-100 firmy Park Systems

Mikroskop Sił Atomowych (AFM) XE-100 należy do grupy mikroskopów ze skanującą sondą umożliwiający uzyskanie 3-wymiarowej topografii powierzchni badanej próbki z rozdzielczością w skali nano dzięki wykorzystaniu oddziaływań międzyatomowych pomiędzy sondą a powierzchnią badanej próbki. XE-100 przeznaczony jest do badań małych i średnich próbek w stanie litym z maksymalnym zakresem skanowania nie większym niż 50 µm. Mikroskop AFM umożliwia badanie powierzchni przewodników, półprzewodników i izolatorów. Możliwe jest także badanie organizmów biologicznych.

W zależności od rodzaju badanego materiału konfiguracja mikroskopu XE-100 pozwala na pracę w następujących modach:

• Mod kontaktowy (Contact AFM): kontaktowe odzwierciedlenie topografii próbki w wyniku przesuwania się igły pomiarowej po powierzchni badanej próbki. Igła cały czas pozostaje w delikatnym kontakcie z badaną powierzchnią. Odkształcenie położenia dźwigienki związane jest z proporcjonalnymi zmianami topografii próbki.
  
• Mod bezkontaktowy (True Non-Contact AFM): odwzorowanie topografii powierzchni za pomocą oscylacyjnego ruchu igły z częstotliwością bliską częstotliwości rezonansowej i amplitudzie kilku nanometrów.
  
• Mod przerywanego kontaktu (Dynamic Force Microscopy): połączenie modu kontaktowego z bezkontaktowym do analizy topografii powierzchni.

Uniwersalna głowica mikroskopu XE-100 umożliwia pracę w następujących trybach:

• Mikroskop Sił Poprzecznych – LFM (Lateral Force Microscopy): tworzenie obrazu powierzchni poprzez obserwacje zmiany wychylenia poprzecznego (skręcenia) igły pomiarowej. Mikroskop ten służy do obrazowania zmian w tarciu powierzchniowym.
• Skaningowy Mikroskop Tunelowy – STM (Scanning Tunneling Microskopy): badania powierzchni z wykorzystaniem zjawiska tunelowania opisującego prąd płynący pomiędzy próbką a igłą przesuwającą się tuż nad jej powierzchnią. Przy pomocy mikroskopu STM możliwe jest badanie elektronowych własności materiałów przewodzących z atomową rozdzielczością.
  
• Mikroskop Sił Magnetycznych – MFM (Magnetic Force Microscopy): pomiar topografii i właściwości magnetycznych powierzchni próbki. Igła pokrywa warstwą ferromagnetyka wibruje blisko powierzchni próbki w wyniku czego rejestrowane są zmiany namagnesowania badanej powierzchni (badania m.in. struktur domen magnetycznych, głowic i nośników magnetycznych)
  
• Mikroskop Sił Elektrostatycznych – EFM (Electrostatic Force Microscopy): pomiar zmiany amplitudy igły pomiarowej posiadającej ładunek elektryczny wprawionej w drgania z częstotliwością zbliżoną do częstotliwości rezonansowej. W wyniku pomiaru uzyskuje się przestrzenny rozkład ładunku elektrycznego zgromadzonego na powierzchni badanej próbki.
  
• Mikroskop z Modulacją Siły – FMM (Force Modulation Microscopy): Skanująca sonda pozostaje w ciągłym kontakcie z badaną powierzchnią w wyniku czego oprócz tradycyjnego obrazu topografii otrzymujemy informacje na temat własności mechanicznych badanej próbki.
  
  << Start < Previous 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 Next > End >>